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Incorporación de la velocidad y la versatilidad de los SDD al microscopio electrónico de transmisión

De nuevo, Bruker establece estándares de rendimiento y funcionalidad en espectrometría de energía dispersiva para microscopios electrónicos de barrido y transmisión. La nueva generación QUANTAX EDS presenta la serie de detectores XFlash® 6T con áreas activas de 30 mm2 y 60 mm2 para TEM y STEM.

La sexta generación proporciona la tecnología de software y hardware para obtener los resultados más rápidos y fiables:

  • Ahorre tiempo: gracias a los nuevos detectores de tecnología de dimensiones reducidas, los SDD con área activa grande y el procesamiento de impulsos de rendimiento elevado, es posible finalizar el trabajo con mayor rapidezƒƒ
  • Ahorre esfuerzos: la motorización del movimiento del detector y el diseño ligero facilitan el uso del detector. La baja interferencia electromagnética y mecánica minimizan la influencia en el rendimiento del instrumento
  • Obtenga más precisión: la mejor resolución energética permite la obtención de espectros de mayor calidad para análisis precisos
  • Obtenga más fiabilidad: la base de datos atómicos más exhaustiva del mundo garantiza la identificación de picos correcta también con niveles energéticos bajos 
  • Obtenga más precisión: los algoritmos más sofisticados para la cuantificación proporcionan los resultados más precisos
  • Obtenga información: compatibilidad con la integración de técnicas complementarias, como EELS

EDS para aplicaciones de S/TEM

Análisis cuantitativo

La cuantificación de espectros de EDS es uno de los pasos más importantes del análisis. ESPRIT utiliza herramientas avanzadas para el procesamiento y análisis de espectros, incluyendo la rutina Cliff-Lorimer para cuantificación. Gracias a la gran eficiencia de los detectores XFlash®, se pueden obtener resultados excelentes tanto en el rango energético bajo y de los elementos ligeros como en el rango de más de 50 keV.

Caracterización de una estructura de semiconductor

La creciente integración de los circuitos hace necesario el análisis de estructuras muy pequeñas. Este ejemplo de aplicación ilustra la caracterización química de una estructura NiSi-NiSi2 en aleación con platino.

EDS para las ciencias de la vida

La excelente capacidad de detección de elementos ligeros de los detectores XFlash® permite llevar a cabo muchas aplicaciones en las ciencias de la vida, particularmente en biomineralización. Esto se demuestra con el mapeo de una célula de levadura que fue teñida con Os y marcada con Ag.

Una nanoestructura magnética

Este ejemplo de aplicación muestra mapas de elementos de una nanoestructura magnética estratificada colocada en una esfera de SiO2. La localización en la escala de nanómetros de las capas y sus constituyentes se puede realizar fácil y rápidamente, así como una evaluación de la calidad del proceso de producción.

Estudio de una partícula con estructura núcleo-cubierta

Las partículas con una estructura núcleo-cubierta se usan a menudo en nanotecnología, especialmente en catálisis. En este ejemplo, una partícula núcleo-cubierta de Pd-Pt se analiza tanto desde el punto de vista tanto cualitativo como cuantitativo.

Análisis químico de fases de un sistema de capas

El análisis químico de fases es un útil complemento del mapeo de elementos en STEM. Esta aplicación muestra como ESPRIT Autophase puede ayudar a entender mejor la estructura de una muestra estratificada.

Caracterización química de nanohilos

Las nanoestructuras, como nanohilos o nanovarillas y nanovehículos funcionalizados, son de cada vez mayor interés para varias aplicaciones en nanotecnología, tanto para la nanoelectrónica como para la aplicación de medicamentos en el cuerpo humano. En este caso se analizaron nanohilos multicapa III-V para su aplicación en el desarrollo de transistores de un solo electrón usando 0,12 sr con un ángulo de incidencia de 22°.

EDS a resolución atómica

El análisis de EDS también se puede realizar en STEM con aberración corregida sin que esto interfiera con el funcionamiento del microscopio. El análisis de un semiconductor de InGaAs muestra que EDS incluso puede identificar variaciones en la composición a escala atómica.

Análisis de EDS de átomos sueltos

Las inigualables propiedades de los detectores XFlash® para TEM permiten el análisis de EDS a la mejor resolución espacial posible. Este ejemplo muestra el análisis de átomos sueltos en grafeno a 60 kV en STEM.