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S1 TITAN, Espectrometro XRF Portátil

El S1 TITAN se encuentra entre los analizadores XRF portátiles de tubo más ligeros (1,44 kg, con la batería incluida) del mercado actual. La rápida velocidad y la precisión análisis excepcional son dos atributos clave para definir el S1 TITAN.

Otras características innovadoras incluyen la integración de una pantalla táctil en color, un tubo de rayos X de 50 kV, determinación de calidad SMART®, geometría de rayos X optimizada SharpBeam®, detector de la desviación del silicio (SDD) X-Flash® y una carcasa extremadamente resistente y hermética para entornos húmedos y con polvo. Póngase en contacto con nuestro equipo de ventas hoy mismo para obtener más información sobre el innovador S1 TITAN.

La serie S1 TITAN está disponible en tres configuraciones: el S1 TITAN-LE, el S1 TITAN-SE y el S1 TITAN-SP. Todas utilizan la tecnología SharpBeam® de Bruker. El S1 TITAN-LE y el S1 TITAN-SE incorporan el detector SDD innovador X-Flash® de Bruker que le garantiza unos tiempos de análisis extremadamente rápidos. El S1 TITAN-SP está configurado con un detector SiPIN de ahorro. Asimismo, el S1 TITAN se puede configurar con calibraciones que están optimizadas para una amplia variedad de materiales de muestra, que incluyen un abanico extenso de aleaciones, muestras de minería y medioambientales, y materiales restringidos.

Tecnología SharpBeam®

La tecnología patentada SharpBeam® de S1 TITAN optimiza la geometría del detector y del tubo. Esta geometría optimizada tiene muchos efectos deseados, entre los que cabe destacar:

Reducción de los requisitos energéticos
Reducción del peso
Mejora de la precisión de medición
Mejora de los límites de detección
Incremento de la vida útil de la batería

Descripción de las ventajas del S1 TITAN

Las calibraciones disponibles incluyen: aleaciones, oro y metales preciosos, materiales a granel (convertidores catalíticos y de residuos de equipos electrónicos), suelo, minería, materiales restringidos y específicos del cliente
Tecnología superior de detector SDD de X-Flash®
Tasa de recuento y resolución superiores (en comparación con los instrumentos SiPIN de generaciones anteriores)
Más rápido que las generaciones anteriores
Límites de detección inferiores
Análisis sencillos de elementos de luz, tales como magnesio, aluminio y silicio, sin necesidad de vacío o atmósfera de helio (solo el S1 TITAN-LE)